汉芯事件是2003年2月上海交通大学教授陈进发明的“汉芯一号”造假,并利用其骗取国家无偿拨款的重大科研造假事件。[2][3] 2001年,陈进进入上海交通大学工作,被任命为“汉芯”的总设计师。[4]他只用了短短16个月的时间,就研制出了“汉芯一号”芯片。2003年2月,由上海市新闻办公室亲自主持召开“汉芯一号”发布会,“汉芯一号”被鉴定为“完全拥有自主知识产权的高端集成电路”,是“中国芯片技术研究获得的重大突破”。此后,随着“汉芯”二号、三号、四号相继问世,“汉芯”项目成为国家级重点科技攻关项目,有关部门下拨大量课题经费,陈进本人不但当上上海交大微电子学院院长,而且还荣获“全国优秀科技工作者”、“教育部长江学者奖励计划特聘教授”等一系列称号。2005年12月,上海交大接到了对陈进等人涉嫌造假的举报,随即请求国家权威部门对事件进行调查。[1][5][4][6][7]2006年1月17日,一位被认为是陈进团队成员的神秘人,在清华大学论坛上发布了一篇名为《汉芯黑幕》的文章,公开指责陈进发明的“汉芯一号”造假。[4]陈进在2006年1月22日表示将寻找证据公开批驳网络传闻后即宣告失踪,汉芯科技也在发表回应网络传闻的声明后选择了沉默。[6]2006年1月25日,《21世纪经济报道》刊出了国内第一篇“'汉芯一号’造假传闻调查”,消息一经刊出,便引起了社会的广泛关注。[8]2006年1月28日,科技部、教育部和上海市政府成立专家调查组并开始工作。[9]2006年5月12日,上海交通大学向新闻记者通报了“汉芯”系列芯片涉嫌造假的调查结论与处理意见。陈进被撤销各项职务和学术头衔,国家有关部委与其解除科研合同,并追缴各项费用。[1][7] 2006年11月7日,科技部发布了《国家科技计划实施中科研不端行为处理办法(试行)》,表示对于科研不端行为,要实行从警告、批评直 至终止项目、收缴经费、在一定时间内不接受有关人员的科研项目申请的处罚措施。有媒体认为,这是中国政府部门出台的首个针对科研不端行为的条例,将打击科研学术造假纳入了法制化轨道。[1]
事件背景
中国国科技成果鉴定制度始于20世纪50年代,尽管经历了40多年的不断完善,但在科技成果鉴定活动中仍存在着诸多问题。[10]