结型场效应管的可变电阻区是一种特殊的电子器件工作状态，其电阻特性受到栅源电压VGS的影响。在这个区域内，漏源电压VDS的变化会直接导致电流ID的变化，因此可以将此区域视为一个受控电阻。 特性描述
在结型场效应管的可变电阻区内，当漏源电压VDS很小时，如果|VDS-VGS|大于|UGSoff|，即处于预夹断之前的状态，那么VDS的变化将会显著地改变整个沟道的电场强度，进而影响电流ID的大小。此时，随着VDS的增加，电流ID也会迅速增长。值得注意的是，在这种情况下，栅源电压VGS对于电流ID上升速率的影响较为明显。随着|VGS|的增大，电流ID的增长速度逐渐放缓，这表明结型场效应管的输出电阻正在变大。这一现象与双极型晶体管有所不同，在结型场效应管中，栅源电压VGS对电流ID上升的斜率有较大的影响。 