X射线衍射分析（X-ray diffraction analysis，简写为XRD），是采用 X 射线为辐射源，基于 X 射线衍射效应对物质的晶体结构进行分析的实验手段。[3] 1912年，德国物理学家劳厄提出了晶体的 X 射线衍射现象。[2]当某物质进行衍射分析时，被 X 射线照射会产生不同程度的衍射现象，而物质组成、分子构型、晶型等决定该物质产生的衍射图谱。X射线衍射具有不损伤样品、无污染、测量精度高、快速、准确、方便等特点，常用于晶体结构 分析与成分分析。[1] 发展历史
1895年，伦琴（Roentgen）发现了 X 射线，在慕尼黑大学从事 X 射线本质研究工作。[4] 