样品制备

样品制备
样品制备在透射电子显微分析技术中扮演着重要角色。透射电镜工作的前提是样品能够透过电子束，因此样品厚度应控制在大约100~200纳米。此外，样品必须能代表所分析材料的特点，制备过程中不应改变这些特点。透射电镜样品制备是一项广泛的课题，具体方法的选择取决于材料种类和所需信息。

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间接样品制备

间接样品制备包括复型技术，其中二级复型可用于现场采样而不会破坏原始样品。萃取复型也是一种半直接样品，因为它可以从样品表面提取颗粒并粘附在复型膜上，从而避免了基体的干扰。

直接样品制备